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半导体制造中的泄漏测试

来源:本站  发布时间:2025-08-22 15:38:31  点击次数:0


半导体制造中的泄漏测试


泄漏检测是半导体制造质量控制的关键环节,但这个过程不必繁琐复杂。传统的氦气泄漏检测往往意味着需要搬运笨重的氦气瓶、管理数米长的软管、操作复杂的设备。这些挑战不仅拖慢检测速度,还增加了出错风险和安全隐忧。


半导体制造中的泄漏测试


INFICON 推出的 SMART-Spray 无线移动氦气喷qiang改变了这一局面,显著提升了泄漏检测的效率、速度、精度和操作舒适度。改变究竟有多大?让我们通过 SMART-Spray 与传统氦气泄漏检测的直观对比,清晰展现其革新价值。


半导体制造中的泄漏测试

不带和带SMART-Spray的泄漏检测




传统方式
v s
SMART-Spray

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